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半導体・電子部品のEOL動向
Z2Dataの最新レポートでは、今後企業が直面する主な生産終了（EOL）リスクと、
それらのリスクの影響を最も受けやすい部品について掘り下げています。
資料内容
- ・Z2Dataについて
- ・レポートの調査方法
- ・年別のEOLに関する傾向
- ・月別のEOLに関する傾向
- ・製品変更通知 （PCN）の傾向
- ・EOL数：受動部品
- ・EOL数：半導体
- ・EOLに関する業界調査
- ・認識と現実のギャップ
- ・MCUに関するEOLの傾向
- ・ビット別MCUにおけるEOL
- ・FPGAに関するEOLの傾向
- ・DRAMに関するEOLの傾向
- ・EOLの影響を緩和する戦略
- ・EOL管理への対処
- ・Z2DataでEOLリスクを管理
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